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ICP光谱仪行业在迅速发展

全球已进入科技信息化时代，科技技术革命正在逐步渗透到经济社会的各个产业，而分析行业同样在迅速发展。越来越多企业对产品质量的要求越来越高，ICP光谱仪器设备也成为时代发展下提升产品质量的新风向。

随着工业的发展和产品要求的提高，研发新型和性能金属材料的需求日益增加，各种痕量元素的测定变得愈加重要。

同时，传统的化学分析方法操作步骤比较繁琐，在紧急情况下，不能及时得到分析结果;其次，化学分析完成后，试剂的处理是一个难点，随意处置会造成环境污染。因此光谱设备相对传统化学分析方法，是金属冶炼，铸造等行业的更好选择。

另一方面，直读ICP光谱仪测样非常快速，可以一次性分析多元素，节省分析时间，适合用于炉前快速分析。分析结果准确，是许多铸造，金属冶炼的必备工具。

企业对产品质量的要求对ICP光谱仪应用领域的进一步拓宽起到了积极作用，极大地带动了ICP光谱仪器设备市场需求量 的增加。随着我国经济发展迈进新时代，分析仪器行业亦开启了新篇章。

如何给ICP光谱仪防尘？

由于ICP光谱仪的价位高昂，所以我们在日常使用中也要做好养护工作，今天我们就来聊聊如何给ICP光谱仪防尘。

在我国国内一般实验室都不具备过滤尘埃、防尘的设施，因此光谱仪需要进行防尘处理。

当实验室内需要采用排风机，排除仪器的热量及工作时产生的有毒气体时，实验室与外部就形成压力差，实验室产生负压，室外含有大量灰尘的空气从门窗的缝隙中流入室内，大量积聚在光谱仪的各个部位上，容易造成高压组件或接头打火，电路板及接线、插座等短路、漏电等各种各样的故障，因此，ICP光谱仪需要经常进行除尘。特别是计算机、电子控制电路、高频发生器、显示器、打印机、磁盘驱动器等，定期拆卸或打开，用小毛刷清扫，并同时使用吸尘器将各个部分的积尘吸除。对光电倍增管负高压电源线、及计算机显示器的高压线及接头，还要用纱布沾上少许无水酒精小心的抹除积炭和灰尘。光谱仪的磁盘驱动器及打印机清出灰尘之后，要在机械活动部件滴加少许仪表油。对于铝及铜、锌等有色金属样品而言,可用小车床车去表面氧化皮即可。打印机的打印头还要拆下，光谱仪要用软毛刷刷扫，并用绒布抹净，防止被纸屑堵塞，然后按照说明书调整一定的打印压力。

对于仪器除尘，一般由电子，仪修或计算机的人员帮助，光谱仪仪器使用或管理人员如不懂电子知识，不了解仪器结构，不要轻易去动，以免发生意外，除尘应事先停机并关掉供电电源下进行。

以上就是给ICP光谱仪防尘介绍，如果您还有关于光谱仪的问题，欢迎咨询小编。

ICP光谱仪是什么构成的？

一台典型的ICP光谱仪主要由一个光学平台和一个检测系统组成。包括以下几个主要部分：

1. 入射狭缝: 在入射光的照射下形成光谱仪成像系统的物点。

2. 准直元件: 使狭缝发出的光线变为平行光。该准直元件可以是一独立的透镜、反射镜、或直接集成在色散元件上，如凹面光栅光谱仪中的凹面光栅。

3. 色散元件: 通常采用光栅，使光信号在空间上按波长分散成为多条光束。

4. 聚焦元件: 聚焦色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狭缝的像，其中每一像点对应于一特定波长。

5. 探测器阵列：放置于焦平面，用于测量各波长像点的光强度。该探测器阵列可以是CCD阵列或其它种类的光探测器阵列。

ICP光谱仪的目标元素

ICP光谱仪是上世纪60年代提出、70年代迅速发展起来的，它的迅速发展和广泛应用是与其克服了经典光源和原子化器的局限性分不开的，那么ICP光谱仪的目标元素都有哪些呢？下面小编就来介绍一下：

ICP光谱仪软质样品（例如：铜、铝、锌、铅）必须车削表面或用酒精湿磨.磨好的表面一定不要玷污（例如用手触摸）.考虑到金属热涨冷缩效应,会影响光线稳定性.温度变化会影响仪器的热平衡,对和一些电器件会造成不稳定,若温差较大对光路也会有影响.

ICP光谱仪对于钢和铸铁（颗粒大小,对钢是60到80之间,对铸铁是40到60之间）,建议用适合于本仪器样品的砂纸干磨.砂纸一定不要被高合金含量的样品污染（例如：应该先用于低合金样品，再用于高合金样品）.样品必须在清洁的、规范的砂纸上磨（没有先前激发处理留下的激发的痕迹）.样品表面不能被抛光（适时更新用过的砂纸）.必须确保样品在磨的过程中没有过热（样品应该与砂纸只有短暂的接触）。而目前，光谱仪的分析技术得到了广泛的应用，如空气污染、水污染、食品卫生、金属工业等的检测中。如果需要，样品应该用水冷却，再干燥，再尽可能短的时间干磨.

ICP光谱仪可用标样中目标元素的“真实浓度”与分析线对和强度比（R）拟合工作曲线（校准曲线）。如果铁含量变化过大，如高、中合金钢，其影响不可忽略，需要用标样中目标元素的“相对浓度”（或“浓度比”）与分析线对和强度比（R）拟合工作曲线，这就是我国光谱分析的前辈讲的“诱导含量法”。如果希望用同一工作曲线同时分析高、中、低合金钢，那就都要用“相对浓度”来校正基体含量的影响。由于径向观测的需要，炬管侧面必须开口，导致炬管的寿命大大降低，同时也改变了炬焰的形状。更进一步，如果既要校正基体含量的影响，又要校正共存元素的干扰，就应该用“表观浓度”来拟合工作曲线。

ICP光谱仪虽然本身测量准确度很高，但测定试样中元素含量时， 所得结果与真实含量通常不一致，存在一定误差，并且受诸多因素的影响，有的材料本身含量就很低。