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   日期:2024-03-04     作者:景颐光电    浏览:40    评论:0    
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荧光效率测定仪公司—— 荧光发光效率检测系统——广州景颐光电科技有限公司是一家生产积分球光功率检测仪的厂家

荧光量子效率测量系统由激发光源、积分球、光谱仪、光纤等部件组成,适用于检测样品的荧光量子效率,其激发光源是不同波段的LED光源或者激光器,激发光源的波段可选,用户可根据样品激发需求定制激发光源,可测量光致发光的量子效率,激发波长光谱分析、光致发光谱分析、光致发光激光谱、电致发光光谱分析等。

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IVL(电流-电压-亮度)的测量

除了可以实现对EQE测量外,针对电致发光器件的另一个重要性能电流-电压-亮度(IVL),我们的电致发光量子效率测量系统也可以提供一体化、自动化测量的方案。

电流参数(电流、电流密度等)随电压参数的变化曲线反映了器件的电学性质。亮度随电压参数的变化曲线反映了器件的光学性质。这类电学和光学参数之间的关系统称为IVL(电流-电压-亮度)关系,对于电致发光器件也非常重要。

通常情况下,IVL关系的测量需要多套电学测量系统和光学测量系统分别测量,测量全部的参数非常繁琐。通过软件整合电流源和光谱探测器的功能,我们提供的发光器件测量系统软件也可以测量电流、电流密度、电压、电流效率、功率效率、发射光谱、色度等一系列参数,并且逐一对应,形成关系曲线,将测量操作化繁为简。

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光谱校正

由于受到光源、单色器和探测器等的光谱特性的影响,由仪器直接记录的荧光光谱并不是所测量物质的真实光谱,这样的光谱被称为未校正光谱,这种光谱的形状和发射峰位置等与真实光谱都有一定的区别。在对物质进行荧光量子产率测量时,就必须对所使用的荧光分光光度计仪器进行光谱校正,获取物质的真实光谱,才能得出准确的荧光量子产率[10]。

本系统采用罗丹明B量子计数器和标准钨灯光源两种方式,对荧光分光光度计进行光谱校正。

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原理:

荧光测量可以用于测量液体,固体和粉末的荧光,由于荧光测量的特殊性,所以需要一个的激发光源,一个的滤光片滤出激发光,由于荧光一般比较弱,所以需要一个具有很高灵敏度的光谱仪来收集光。

光纤光谱仪:

推荐使用高灵敏度的荧光光谱仪,或是Maya光谱仪。如果在预算有限的情况下,也可以使用高的光谱仪。

例如测量200-950nm的配置,就可以使用光谱仪和光栅,可以采用大狭缝,尽量提高入光量。由于使用背照式面阵CCD,具有高达90%的量子效率(光子转换为光电子的效率),在制冷下,可以达到1000:1的信噪比,这个配置为荧光测量提供了强有力的科学手段。内置的消除二级衍射的滤波片可以滤出二级和三级衍射。

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原文链接:http://www.0515.org/news/show-44752.html,转载和复制请保留此链接。
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